출원번호
출원명칭
10-1995-0006682
광위상간섭계 및 그를 이용한 표면측정방법
10-1998-0043687
광학식 치수/형상/표면조도 측정장치
10-2000-0024231
반사거울과 슬릿빔을 이용한 임의 표면형상 계측장치
10-2000-0069549
모아레무늬 발생기를 적용한 위상천이 영사식 모아레방법 및 장치
10-2001-0018253
색정보를 이용한 실시간 3차원 표면형상 측정방법 및 장치
10-2001-0087334
칩 마운팅 방법 및 장치
10-2002-0002305
경사단면 광섬유 광원을 이용한 피조 간섭계
10-2001-0074611
납형상 3차원 측정기
10-2001-0087333
3차원 형상/표면조도 측정장치
10-2001-0074610
피조 간섭계용 위상천이 구동장치
10-2001-0075699
모아레무늬 발생기를 이용한 3차원형상의 측정장치
10-2002-0002307
광학식 2차원 및 3차원 형상 측정 시스템
10-2002-0002306
경사단면 광섬유 광원을 이용한 위상천이 점회절 간섭계
10-2002-0058562
촬상 영상 고속 포획장치 및 그 방법
10-2003-0067590
스테레오비전과 모아레를 이용한 3차원 검사 방법 및 장치
10-2004-0095877
반도체 소자 검사장치 및 검사방법
10-2005-0008710
반도체 소자 검사장치 및 그를 이용한 반도체 소자의 분류 방법
10-2005-0106156
반도체 패키지의 분류 방법
10-2005-0106159
3차원 형상 측정 장치 및 그를 이용한 3차원 형상 측정 방법
10-2005-0129986
반도체 소자의 비전 검사 시스템
10-2005-0066777
반도체검사장치의 로딩부 적층 안내 장치
10-2005-0048576
반도체 소자의 검사 방법
10-2005-0048584
반도체 소자 분류 방법
10-2005-0048585
반도체 패키지의 인트레이 검사 장치 및 검사 방법
10-2005-0077997
반도체 소자의 분류 방법
10-2005-0098855
반도체 패키지의 분류 방법
10-2005-0098860
반도체 패키지 분류 방법
10-2005-0130180
메모리 모듈 핸들러의 간격 조절장치
10-2005-0098853
영상 측정 장치 및 그 방법
10-2005-0129988
비전 검사 시스템 및 그를 이용한 검사 방법
10-2006-0043900
반도체 소자의 비전 검사 시스템
10-2005-0048579
반도체 패키지의 마킹 검사 방법 및 그 검사 장치
10-2005-0098851
영상 측정 장치 및 그 방법
10-2006-0088480
트레이 핸드링 장치 및 그를 이용한 반도체 소자 검사 방법
10-2006-0103641
간격 자동 정렬 장치가 구비된 메모리 모듈 핸들러 및 그를 이용한
픽커 간격 조절방법
10-2006-0119271
반도체 패키지 이송장치
10-2007-0052290
입체 형상 측정 장치
10-2005-0129985
비전 검사 시스템
10-2007-0031866
반도체 소자 비전 검사 시스템

출원번호
출원명칭
10-2006-0048881
광학식 검사 장치 및 광학식 검사 방법
10-2006-0048886
광학식 검사 장치및 광학식검사방법
10-2006-0136878
광학식 입체 형상 검사방법
10-2007-0024652
클리닝 수단이 일체로 구비된 반도체 소자의 검사장치 및 그를 이용한
반도체 소자의 검사방법
10-2007-0031846
반도체 소자 인-트레이 검사 장치 및 그를 이용한 검사 방법
10-2007-0031863
입체 형상 검사 장치 및 그를 이용한 입체 형상 검사 방법
10-2007-0050521
초점조절수단이구비된반도체패키지검사장치및그를이용한반도체패키지
10-2007-0050524
반도체 패키지 검사 시스템
10-2007-0050526
반도체 소자의 비전 검사시스템
10-2007-0065709
반도체 소자의 비전 검사 시스템
10-2007-0122304
피검사물의 형상 검사 방법
10-2007-0122305
피검사물의 형상 검사 방법
10-2007-0131393
입체 형상 측정 장치
10-2007-0131395
표면 형상 측정 시스템 및 그를 이용한 측정 방법
10-2007-0136618
표면 형상 검사 장치
10-2007-0136623
입체 형상 측정 방법

PCT 출원번호
PCT 출원명칭
PCT Appon licatiNumber
PCT Title
PCT/KR2001/001841
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE THREE-DIMENSIONAL SHAPE OF AN OBJECT USING A MOIRE
PCT/KR2001/001840
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE THREE-DIMENSIONAL SURFACE SHAPE OF AN OBJECT USING COLOR INFO
PCT/KR2002/002420
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING AND PACKING CHIPS
PCT/KR2003/000045
OPTICAL APPARATUS FOR MEASURING THE TWO AND THREE-DIMENSIONAL SHAPE OF AN OBJECT
PCT/KR2003/001715
APPARATUS AND METHOD FOR CAPTURING IMAGES FROM A CAMERA
PCT/KR2006/002154
METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE
PCT/KR2006/002150
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING MARKING OF SEMICONDUCTOR PACKAGE
PCT/KR2006/002171
METHOD FOR CLASSIFYING SEMICONDUCTOR DEVICE
PCT/KR2006/002173
IN-TRAY INSPECTION APPARATUS AND METHOD OF SEMICONDUCTOR PACKAGE
PCT/KR2006/004172
APPARATUS FOR AND METHOD OF MEASURING IMAGE
PCT/KR2006/004225
APPARATUS FOR AND METHOD OF MEASURING IMAGE
PCT/KR2006/004229
SEMICONDUCTOR PACKAGE SORTING METHOD
PCT/KR2007/004483
OPTICAL TEST METHOD
PCT/KR2007/004807
OPTICAL TEST METHOD
PCT/KR2007/004399
TRAY HANDLING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTING METHOD USING THE SAME
PCT/KR2007/004806
MEMORY MODULE HANDLER WITH AUTOMATIC SPACING ALIGNER AND PICKER SPACING ADJUSTING
PCT/KR2007/006091
APPARATUS OF TRANSFERRING SEMICONDUCTOR PACKAGE
PCT/KR2008/001260
APPARATUS FOR INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR INSPECTION
PCT/KR2008/001603
SYSTEM FOR VISION INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE
PCT/KR2008/001635
APPARATUS FOR INSPECTION OF THREE DIMENSIONAL SHAPE AND METHOD FOR INSPECTION USING THE SAME
PCT/KR2008/001637
APPARATUS FOR INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR INSPECTION USING THE SAME